單點拋錨浮標警示船只浮體

浮體應（英語：Floating body effect）是在SOI技術中實現的晶體管與體勢（body potential）相關的應。晶體管在緣體層上形成個電容。這個電容上聚集的電荷可能會產生負面應，例如，開啟結構上的寄生晶體管和關態泄漏電流（off-state leakages），造成高的電流消耗，以動態隨機存取存儲器丟失信息。它也造成歷史應（英語：history effect），即晶體管與之前狀態閾值電壓有關的應。在模擬電路器件中，浮體應被稱作扭結應（英語：Kink effect）。

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動態隨機存取存儲器（Dynamic Random Access Memory，DRAM）是種半導體存儲器，主要的作用原理是利用電容內存儲電荷的多寡來代表個二進制比（bit）是1還是0。由于在現實中晶體管會有漏電電流的現象，導致電容上所存儲的電荷數量并不足以正確的判別數據，而導致數據毀損。因此對于DRAM來說，周期性地充電是個可避的要件。由于這種需要定時刷新的性，因此被稱為“動態"存儲器。相對來說，靜態存儲器（SRAM）只要存入數據后，縱使不刷新也不會丟失記憶。
與SRAM相比，DRAM的勢在于結構簡單——每個比的數據都只需個電容跟個晶體管來理，相比之下在SRAM上個比通常需要六個晶體管。正因這緣故，DRAM擁有高的密度，單位體積的容量較高因此成本較低。但相反的，DRAM也有訪問速度較慢，耗電量較的缺點。

門前左右角樓為鳴金、奏樂和瞭望，東西兩側是轅門。整個建筑飛檐畫棟，雄偉壯觀。其興建于1888年(光緒十四年)。占地面積近1萬平方米，"傍海修筑，高距危巖，下臨地，飛甍廣廈，輪奐美焉"。其平面呈長方，主體建筑分前后三棟，三進院落。